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ATPG

2018-08-21 09:53:16     所属分类:电路

自动测试图样产生英语:Automatic test pattern generation, ATPG)系统是一种工具,产生资料给制造出来后的数字电路作测试使用。

超大规模集成电路的测试平台,要达到非常高的错误涵盖率(Fault coverage英语Fault coverage)是非常困难的工作,因为它的复杂度很高。 针对组合逻辑电路(Combinatorial logic)和时序逻辑电路(Sequential logic)的电路测试,必须要使用不同的 ATPG 方法。


参见

  • 可测试性设计
  • Fault model英语Fault model
  • 专用集成电路
  • 超高速集成电路

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